REER安全光幕-意大利REER测量传感器MicronMI300AV

发表时间：2019-04-18 浏览：1025

REER测量传感器 Micron用于测量，自动化和控制的光幕，用于工业和民用应用的光幕，需要检测，测量和识别物体。根据物体接合光束的数量和位置，Micron可以向PLC或PC提供实时信息，以便：检测物体的存在与否，执行计数，检测位置，检测形状或轮廓，测量尺寸。

Model MI AV：配备两个带可编程功能的模拟输出（0/10 VDC）和两个可编程数字输出。

odelMI AC：配备两个带可编程功能的模拟输出（4/20 mA）和两个可编程数字输出。

odelMI B：配备带可编程功能的RS 485串行接口和两个可编程数字输出。

odelMI C：配备两个反复固态输出。

REER测量传感器 Micron用于PC的MicronConfigurator软件具有图形用户界面，随每个光幕一起提供（仅限A型和B型）。A型和B型配有M5 4极连接器，用于参数配置和光幕监控。可用的光束间距：5,10,25,30,50和75 mm。控制高度：150 mm ... 3000 mm - 梁间距为10,25,30,50,75 mm的型号; 150 mm ... 1500 mm - 梁间距5 mm的型号。

REER测量传感器 MICRON AV配备两个模拟输出0/10 VDC，带可编程功能和两个可编程数字输出，适用于物体测量和尺寸限制检测。编程接口：M5 4极连接器上的USB接口。

比较大光幕和接口之间的长度连接电缆：100m。

REER测量传感器 Micron MI 1500AV

REER测量传感器 Micron MI 150AV

REER测量传感器 Micron MI 300AV

REER测量传感器 Micron MI 450AV

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